為了達(dá)到滿意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先藉由老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條
件下提高其效率？本文介紹在老化過程中進(jìn)行功能測(cè)試的新方案，以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時(shí)間問
題。
    在半導(dǎo)體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭(zhēng)論。像其它產(chǎn)品一樣，半導(dǎo)體隨時(shí)可能因?yàn)楦鞣N原因而出現(xiàn)
故障，老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由
老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會(huì)產(chǎn)生很多問題。
  在開始使用后的幾小時(shí)到幾天之內(nèi)出現(xiàn)的缺陷(取決于制造制程的成熟程度和器件總體結(jié)構(gòu))稱為早期故障，
老化之后的器件基本上要求****消除由這段時(shí)間造成的故障。準(zhǔn)確確定老化時(shí)間的方法是參照以前收集到
的老化故障及故障分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，而大多數(shù)廠商則希望減少或者取消老化。 
  老化制程**要確保工廠的產(chǎn)品
滿足用戶對(duì)可靠性的要求，除此之外，
它還**能提供工程數(shù)據(jù)以便用來改
進(jìn)器件的性能。 
  一般來講，老化制程藉由工作環(huán)
境和電氣性能兩方面對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)
行苛刻的試驗(yàn)使故障盡早出現(xiàn)，典型
的半導(dǎo)體壽命曲線如右圖。由圖可見，
主要故障都出現(xiàn)在器件壽命周期開始
和的十分之一階段。老化就是加
快器件在其壽命前10%部份的運(yùn)行過
程，迫使早期故障在更短的時(shí)間內(nèi)出
現(xiàn)，通常是幾小時(shí)而不用幾月或幾年。
不是所有的半導(dǎo)體生
 
產(chǎn)廠商對(duì)所有器
件都需要進(jìn)行老化。普通器件制造由
于對(duì)制程比較了解，因此可以預(yù)先掌握藉由統(tǒng)計(jì)得出的失效預(yù)計(jì)值。如果實(shí)際故障率高于預(yù)期值，就需要再
作老化，提高實(shí)際可靠性以滿足用戶的要求。 
  本文介紹的老化方法與 10 年前幾乎一樣，不同之處僅僅在于如何更好地利用老化時(shí)間。提高溫度、增加動(dòng)
態(tài)信號(hào)輸入以及把工作電壓提高到正常值以上等等，這些都是加快故障出現(xiàn)的通常做法；但如果在老化過程中進(jìn)
行測(cè)試，則老化成本可以分?jǐn)傄徊糠莸焦δ軠y(cè)試上，而且藉由對(duì)故障點(diǎn)的監(jiān)測(cè)還能收集到一些有用信息，從總體
上節(jié)省成本，另外，這些信息經(jīng)統(tǒng)計(jì)后還可證明找出某個(gè)器件所有早期故障所需的時(shí)間是否合適。  
 

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過去的老化系統(tǒng) 
 
  進(jìn)行老化的**個(gè)原因是為了提高半導(dǎo)體器件的可靠性，目前為止還沒有其它的替代方法。老化依然是在高
溫室(通常125℃左右 )內(nèi)進(jìn)行，給器件加上電子偏壓，大部份時(shí)候還使用動(dòng)態(tài)驅(qū)動(dòng)信號(hào)。 
  很多公司想減少或者全部取消老化，但是他們又找不到其它可靠的替代方法能夠在產(chǎn)品到達(dá)客戶之前把有早
期故障的剔除掉，所以看來老化還會(huì)長(zhǎng)久存在下去。半導(dǎo)體廠商另外也希望藉由老化做更多的事，而不是浪
費(fèi)寶貴時(shí)間被動(dòng)地等待組件送來做老化。 
  過去的老 化系 統(tǒng)設(shè)計(jì) 比較 簡(jiǎn)單。 10 年以前， 老化 就是把 一個(gè) 器件插 入老 化板， 再把 老化板 放入 老化室 ，給
老化板加上直流偏壓(靜態(tài)老化)并升高溫度，168 個(gè)小時(shí)之后將器件取出進(jìn)行測(cè)試。如果經(jīng) ****測(cè)試后仍然性能

 
完好，就可以保證器件質(zhì)量可靠并將其發(fā)送給用戶。 
  如果器件在老化時(shí)出現(xiàn)故障，則會(huì)被送去故障分析實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析，這可能會(huì)需要幾周的時(shí)間。實(shí)驗(yàn)室提供
的數(shù)據(jù)將用來對(duì)設(shè)計(jì)和制程進(jìn)行細(xì)微調(diào)節(jié)，但這也表明對(duì)可能出現(xiàn)的嚴(yán)重故障采取補(bǔ)救措施之前已進(jìn)行
了幾個(gè)星期。目前工程師們找了一些方法，對(duì)器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間錯(cuò)誤覆蓋率很高的老化，甚至還對(duì)器件作一些測(cè)試。
但遺憾的是沒有人能解決老化的根本問題，即減少成本與時(shí)間。于是半導(dǎo)體制造商們采用了另一種老化方式：在
老化中進(jìn)行功能測(cè)試。 
 為什么要在老化時(shí)進(jìn)行測(cè)試 
 
  在老化階段進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測(cè)試”的真
正含義。 
  一般半導(dǎo)體測(cè)試要用到昂貴的高速自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，在一個(gè)電性能條件可調(diào)的測(cè)試臺(tái)上對(duì)半導(dǎo)體作測(cè)試。它還
可疑在標(biāo)稱性能范圍之外進(jìn)行，完成功能
(邏輯 )和參數(shù)(速度)方面的測(cè)試，像信號(hào)升
降時(shí)間之類的參數(shù)可**到皮秒級(jí)。也許是
因?yàn)榭煽販y(cè)試環(huán)境只有一個(gè)器件作為電性
負(fù)載，所以信號(hào)轉(zhuǎn)換很快，能夠進(jìn)行真實(shí)的
器件響應(yīng)參數(shù)測(cè)量。 
  但在老化的時(shí)候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量
好是能夠同時(shí)對(duì)盡可能多的器件作老化。為
滿足這一要求，可把多個(gè)器件裝在一個(gè)大的
印刷線路板上，這個(gè)板稱為老化板，它上面
的所有器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物
理電氣特性不能和只測(cè)試一個(gè)器件的小測(cè)
試臺(tái)相比，因?yàn)槔匣迳系娜菪院透行载?fù)載會(huì)給速度測(cè)試帶來麻煩。所以我們通常無法用老化進(jìn)行所有功能測(cè)試。
不過在某些情況下，運(yùn)用特殊的系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)在老化環(huán)境下進(jìn)行速度測(cè)試也是可能的。 
  老化系統(tǒng)中的“測(cè)試”可以指任何方面，從對(duì)每一器件每一管腳進(jìn)行基本信號(hào)測(cè)試，到對(duì)老化板上的所有器
件作幾乎 ****功能測(cè)試，這一切均視器件復(fù)雜性及所選用的老化測(cè)試系統(tǒng)而定。可以說對(duì)任何器件進(jìn)行 ****功
能測(cè)試都是可以做的，但是這樣采用的方法可能會(huì)減少老化板上的器件密度，從而增加整體成本并降低產(chǎn)量。  
 
在老化中進(jìn)行測(cè)試的好處有： 
 
  1 ．  將耗時(shí)的功能測(cè)試移到老化中可以節(jié)約昂貴的高速測(cè)試儀器的時(shí)間。如
果老化后只進(jìn)行參數(shù)測(cè)試及很少的功能測(cè)試，那么用現(xiàn)有設(shè)備可測(cè)試更多器件，
僅此一點(diǎn)即可抵消因采用老化測(cè)試方案而發(fā)生的費(fèi)用。 
  2 ．  達(dá)到預(yù)期故障率的實(shí)際老化時(shí)間相對(duì)更短。過去器件進(jìn)行首批老化時(shí)都
要先藉由168 小時(shí)，這是人們期望發(fā)現(xiàn)所有早期故障的標(biāo)準(zhǔn)起始時(shí)間，而這完全
是因?yàn)槭诸^沒有新器件數(shù)據(jù)所致。在隨后的半年期間，這個(gè)時(shí)間會(huì)不斷縮短，直
到用實(shí)驗(yàn)和誤差分析方法實(shí)際所需的老化時(shí)間為止。在老化同時(shí)進(jìn)行測(cè)試則
可以藉由檢查老化系統(tǒng)生成的實(shí)時(shí)記錄及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生的故障。盡快掌握老化時(shí)間

可提高產(chǎn)量，降低器件成本。 
  3 ．  及時(shí)對(duì)制程作出反饋。器件故障有時(shí)直接對(duì)應(yīng)于某個(gè)制造制程或者
某設(shè)備，在故障發(fā)生時(shí)及時(shí)了解信息可立刻解決可能存在的制程缺陷，避免制造出大量不合格產(chǎn)品。 
  4 ． 確保老化的運(yùn)行情況與期望相符。藉由監(jiān)測(cè)老化板上的每個(gè)器件，可在老化一開始時(shí)就先更換已經(jīng)壞了
的器件，這樣使用者可確保老化板和老化系統(tǒng)按預(yù)先設(shè)想的狀況運(yùn)行，沒有產(chǎn)能上的浪費(fèi)。 
 
老化測(cè)試系統(tǒng)類型 
 
  目前市面上有多種老化測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)方法，除了老化系統(tǒng)廠商制造的通用型產(chǎn)品外，半導(dǎo)體廠商也在內(nèi)
部開發(fā)了一些供他們自己使用的此類系統(tǒng)。大多數(shù)系統(tǒng)都采用計(jì)算機(jī)作主機(jī)，用于數(shù)據(jù)采集和電路基本控制，而
一些非計(jì)算機(jī)系統(tǒng)只能用LED 作為狀態(tài)指示器，需要人工來收集數(shù)據(jù)。 
  為了能對(duì)老化板上的每一器件作獨(dú)立測(cè)試，**要在老化系統(tǒng)控制下將每個(gè)器件與其它器件進(jìn)行電性隔離。
內(nèi)存件非常適合于這種場(chǎng)合，因?yàn)樗鼈儽辉O(shè)計(jì)成按簇方式使用并帶有多路選通訊號(hào)，而邏輯器件則可能無法使用
選通訊號(hào)，這使得在老化系統(tǒng)中設(shè)計(jì)通用邏輯測(cè)試會(huì)更難一些。因此針對(duì)不同器件類型存在不同的邏輯老化系統(tǒng)
是很正常的。 
  老化測(cè)試系統(tǒng)可歸為兩大類：邏輯器件和內(nèi)存。邏輯器件測(cè)試系統(tǒng)又可分為兩類：平行和串行；同樣，內(nèi)存
測(cè)試系統(tǒng)也可分為兩類：非易失性和易失性。 
 
邏輯器件老化測(cè)試 
 
  邏輯器件老化測(cè)試是兩類系統(tǒng)中難度的，這是因?yàn)檫壿嫯a(chǎn)品具有多功能特性，而且器件上可能還沒有選
通訊號(hào)引腳。為使一種老化測(cè)試系統(tǒng)適應(yīng)所有類型的邏輯器件，**要有大量的輸入輸出引線，這樣系統(tǒng)才能生
成多引腳器件通常所需的多種不同信號(hào)。老化系統(tǒng)還要有一個(gè)驅(qū)動(dòng)板，作為每個(gè)信號(hào)通路的引腳驅(qū)動(dòng)器，它一般
采用較大的驅(qū)動(dòng)電流以克服老化板的負(fù)載特性。 
  輸出信號(hào)要確保能夠?qū)π枳骼匣娜魏纹骷愋瓦M(jìn)行處理。如果老化板加載有問題，可以將其分隔成兩個(gè)或
更多的信號(hào)區(qū)，但是這需要將驅(qū)動(dòng)板上的信號(hào)線數(shù)量增加一
倍。大多數(shù)平行輸出信號(hào)利用專用邏輯、預(yù)編程 EPROM、或可
重編程及可下載 SRAM 產(chǎn)生，用 SRAM 的好處是可利用計(jì)算機(jī)
重復(fù)編程而使老化系統(tǒng)適用于多種產(chǎn)品。 
邏輯器件老化測(cè)試主要有兩種實(shí)現(xiàn)方法：平行和串行，這指
的是系統(tǒng)的輸入或監(jiān)測(cè)方式。一般來說所有邏輯器件測(cè)試系
統(tǒng)都用平行方式把大量信號(hào)傳給器件，但用這種方式進(jìn)行監(jiān)
測(cè)卻不能將老化板上的每一個(gè)器件分離出來。 
  ?平行測(cè)試法
  平行測(cè)試是在老化過程中進(jìn)行器件測(cè)試快的方法，這
是因?yàn)橛卸鄺l信號(hào)線連在器件的輸入輸出端，使數(shù)據(jù)傳輸量
達(dá)到，I/O 線的輸入端由系統(tǒng)測(cè)試部份控制。平行測(cè)試有
三種基本方式：各器件單選、單引腳信號(hào)返回和多引腳信號(hào)
返回。 
  ?各器件單選法
  如果老化板上的器件可以和其它器件分離開，系統(tǒng)就可
藉由選擇方法分別連到每一個(gè)器件上，如使用片選引腳，所有器件都并聯(lián)起來，一次只選中一個(gè)器件生成返回信
號(hào)(圖2)。 系統(tǒng)提供專門的器件選擇信號(hào)，在測(cè)試過程中一次選中一個(gè)，老化時(shí)所有器件也可同時(shí)被選并接收同
樣的數(shù)據(jù)。
  用這種方法每個(gè)器件會(huì)輪流被選到，器件和老化系統(tǒng)之間的大量數(shù)據(jù)藉由并行總線傳輸。該方法的局限是選

中的器件**克服老化板及其它非選中器件的容性和感性負(fù)載影響，這可能會(huì)使器件在總線上的數(shù)據(jù)傳輸速度下
降。 
  ?單引腳信號(hào)返回
  這個(gè)方法里所有器件都并聯(lián)在一起，但每個(gè)器件有
一個(gè)信號(hào)返回引腳除外，所有器件同時(shí)進(jìn)入工作狀態(tài)，
由系統(tǒng)選擇所監(jiān)測(cè)的器件并讀取相應(yīng)的信號(hào)返回線。該
方法類似于串行測(cè)試法，但信號(hào)引腳一般檢測(cè)的是邏輯
電平，或者是可以和預(yù)留值比較的脈沖模式。檢測(cè)到的
信號(hào)通常表示器件內(nèi)部自檢狀態(tài)，它存在器件內(nèi)以供測(cè)
試之用，如果器件沒有自檢而只是單純由系統(tǒng)監(jiān)測(cè)它的一個(gè)引腳，那么測(cè)試可信度將會(huì)大大降低。 
  ?多引腳信號(hào)返回 
  該方法和單引腳信號(hào)返回類似，但是從每個(gè)器件返回的信號(hào)更多。由于每個(gè)器件有更多信號(hào)返回線，所以這
種方法要用到多個(gè)返回監(jiān)測(cè)線路。而又因?yàn)?*要有大量返回線路為該方法專用，因此會(huì)使系統(tǒng)總體成本急劇增
加。沒有內(nèi)部自檢而且又非常復(fù)雜的器件可能就需要用這種方法。 
  ?串行測(cè)試法 
  串行測(cè)試比平行測(cè)試作業(yè)容易一些，但是速度要慢很多。除了每個(gè)器件的串行信號(hào)返回線，老化板上的每個(gè)
器件通常都并聯(lián)在一起。該方法用于有一定處理功能并可藉由一條信號(hào)返回線反映各種狀態(tài)的器件。測(cè)試時(shí)傳送
的數(shù)據(jù)**進(jìn)行譯碼，因此老化板上應(yīng)有數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。 
  ?RS-232C 或同等協(xié)議 
  一種串 行監(jiān)測(cè) 方法 是在老 化板 上采用 全雙工 RS-232C 通訊協(xié) 議， 所有器 件的 其它支 持信 號(hào)(如時(shí)鐘和 復(fù)位)
都并聯(lián)在一起(圖3)。 RS-232C 發(fā)送端(TxD)通常也連到
所有器件上，但同時(shí)也支持老化板區(qū)域分隔以進(jìn)行多路
再使用傳輸。 
  每個(gè)器件都將信號(hào)返回到驅(qū)動(dòng)板上的一個(gè) RS-232C
接收端(RxD)，該端口在驅(qū)動(dòng)板上可以多路再使用。驅(qū)動(dòng)
電路向所有器件傳送信號(hào)，然后對(duì)器件的RxD 線路進(jìn)行
監(jiān)控，每個(gè)器件都會(huì)被選到，系統(tǒng)則將的數(shù)據(jù)與預(yù)
留值進(jìn)行比較。這種測(cè)試系統(tǒng)通常要在驅(qū)動(dòng)板上使用微
處理器，以便能進(jìn)行RS-232C 通訊及作為故障數(shù)據(jù)緩沖。 
  ?邊界掃描(JTAG)
  邏輯器件老化的趨勢(shì)是采用IEEE 1149.1 規(guī)定的方法。該方法也稱為JTAG或邊界掃描測(cè)試，它采用五
線制(TCK、TDO、TDI、 TMS 及T RST)電子協(xié)議，可以和平行測(cè)試法相媲美。 
  采用這種方法時(shí)，JTAG 測(cè)試端口和整個(gè)系統(tǒng)**要設(shè)計(jì)到器件的內(nèi)部。器件上用于 JTAG 測(cè)試的電路屬于專
用測(cè)試口，用來對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試，即使器件裝在用戶終端系統(tǒng)上并已開始工作以后，該測(cè)試口還可以使用。一般
而言，JTAG埠采用很長(zhǎng)的串聯(lián)緩存器鏈，可以訪問到所有的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)。每個(gè)緩存器映像器件的某一功能或特性，
于是，訪問器件的某種狀態(tài)只需將該緩存器的狀態(tài)數(shù)據(jù)串行移位至輸出端即可。 
  采用同樣技術(shù)可完成對(duì)器件的編程，只不過數(shù)據(jù)是藉由JTAG端口串行移位到器件內(nèi)部。IEEE 1149.1的說
明里詳細(xì)闡述了 JTAG 端口的作業(yè)。  
 

內(nèi)存老化 
 
  內(nèi)存老化和測(cè)試的線路實(shí)現(xiàn)起來相對(duì)簡(jiǎn)單一些，所有器件藉由統(tǒng)一方式寫入，然后單獨(dú)選中每個(gè)器件，將其
存入的數(shù)據(jù)讀出并與原來的值對(duì)照。由于具有控制和數(shù)據(jù)采集軟件以及故障數(shù)據(jù)評(píng)估報(bào)告算法，所以內(nèi)存老化測(cè)
試對(duì)商非常有用。 

  大多數(shù)內(nèi)存件支持多個(gè)選通引腳，因而老化測(cè)試系統(tǒng)采用簇方式讀回?cái)?shù)據(jù)。某些系統(tǒng)具有很寬的數(shù)據(jù)總線，
每一簇可同時(shí)讀取多個(gè)器件，再由計(jì)算機(jī)主機(jī)或類似的機(jī)器對(duì)器件進(jìn)行劃分。增加老化板上的平行信號(hào)數(shù)量可提
高速度，減少同一條平行信號(hào)線所連器件數(shù)，并且降低板子和器件的負(fù)載特性。 
  ?易失性內(nèi)存(DRAM和SRAM) 
  易失性內(nèi)存測(cè)試起來是簡(jiǎn)單的，因?yàn)樗鼰o需特殊算法或時(shí)序就可進(jìn)行多次擦寫。一般是所有器件先同時(shí)寫
入，然后輪流選中每個(gè)器件，讀回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行比較。 
  由于在老化時(shí)可重復(fù)進(jìn)行慢速的刷新測(cè)試，因此 DRAM 老化測(cè)試能夠?yàn)楹鬁y(cè)制程節(jié)省大量時(shí)間。刷新測(cè)試要
求先將數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存，再等待一段時(shí)間使有缺陷的儲(chǔ)存單元放電，然后從內(nèi)存中讀回?cái)?shù)據(jù)，找出有缺陷的儲(chǔ)存單
元。將這部份測(cè)試放入老化意味著老化后的測(cè)試制程不必再進(jìn)行這種很費(fèi)時(shí)的檢測(cè)，從而節(jié)省了時(shí)間。 
  ?非易失性內(nèi)存(EPROM和EEPROM) 
  非易失性內(nèi)存測(cè)試起來比較困難，這是因?yàn)樵趯懭胫?*先將里面的內(nèi)容擦除，這樣使得系統(tǒng)算法更困難
一些，通常還**使用特殊電壓來進(jìn)行擦除。不過其測(cè)試方法基本上是相同的：把數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存再用更復(fù)雜的算
法將其讀回。 
 老化測(cè)試系統(tǒng)性能 
 
  有許多因素會(huì)影響老化測(cè)試系統(tǒng)的整
體性能，下面是一些主要方面： 
  1 ．首先是測(cè)試方法的選擇。
  理想的情況是器件在老化制程上花費(fèi)
的時(shí)間少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣
的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能
快速進(jìn)行反復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可減少總體老化
時(shí)間。每單位時(shí)間里內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換次數(shù)越
多，器件受到的考驗(yàn)就越大，故障也就出現(xiàn)
得更快。 
  2 ．老化板互連性、PC B 設(shè)計(jì)以及偏置
電路的復(fù)雜性。
  老化測(cè)試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速
測(cè)試，但是，如果機(jī)械連接或老化板本身特
性會(huì)削弱信號(hào)質(zhì)量，那么測(cè)試速度將會(huì)是一
個(gè)問題。如像過多機(jī)電性連接會(huì)增大整個(gè)系
統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計(jì)不良會(huì)產(chǎn)生
噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動(dòng)器設(shè)計(jì)則會(huì)
使快速信號(hào)沿所需的驅(qū)動(dòng)電流大小受到限
制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶
頸，另外由于負(fù)載過大并存在阻抗、電路偏
置以及保護(hù)組件值的選擇等也會(huì)使老化的性能受到影響。 
  3 ．計(jì)算機(jī)接口與數(shù)據(jù)采集方式。
  有些老化測(cè)試系統(tǒng)采用分區(qū)方法，一個(gè)數(shù)據(jù)采集主機(jī)控制多個(gè)老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實(shí)
際情況來看，單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，而且可能還具有更大的測(cè)試產(chǎn)量。 
  4 ．對(duì)高速測(cè)試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。
  有些老化測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語(yǔ)言，對(duì)需要做****節(jié)點(diǎn)切換的被測(cè)器件不用再開發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能
夠把高速測(cè)試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上，可以在老化過程中進(jìn)行更準(zhǔn)確的測(cè)試。 

  5 ．系統(tǒng)提供參數(shù)測(cè)試的能力。
  如果老化測(cè)試系統(tǒng)能進(jìn)行一些速度測(cè)試，那么還可其它一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進(jìn)行可靠性研究，這也有助
于精簡(jiǎn)老化后測(cè)試制程。 
  6 ．根據(jù)時(shí)間動(dòng)態(tài)改變測(cè)試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。
  如果老化測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對(duì)于某些器件結(jié)
構(gòu)，直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號(hào)的功率變動(dòng)都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。 
  7 ．計(jì)算機(jī)主機(jī)與測(cè)試系統(tǒng)之間的通訊。
  由于功能測(cè)試程序非常長(zhǎng)，因此測(cè)試硬件的設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能提高速度。一些系統(tǒng)使用較慢的串行通訊，如
RS-232C 或者類似協(xié)議，而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng)，大大提高了數(shù)據(jù)流通率。 
 
結(jié)束語(yǔ) 
 
  在老化過程中進(jìn)行測(cè)試會(huì)帶來一些成本問題，但困難的
是找出一個(gè)測(cè)試方法完成器件所有可能的測(cè)試項(xiàng)目。 
  對(duì)邏輯產(chǎn)品而言，JTAG 法是一種通用的老化測(cè)試方式，
因?yàn)槠骷系臏y(cè)試埠是一致的，這樣老化硬件線路就可保持不
變。 
  對(duì)內(nèi)存而言，在小批量情況下，是能有一種對(duì)易失性
和非易失性內(nèi)存都能進(jìn)行處理的測(cè)試系統(tǒng)；而在大批量情況
下，則是采用不同的系統(tǒng)以降低成本。  
 

References：  
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